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自感知探針原子力顯微鏡
- 產品介紹：自感知探針原子力顯微鏡● 采用壓電自感知探針的原子力顯微鏡，操作簡單；● 兼容激光檢測型探針的原子力顯微鏡，功能強大；● 高精度測控系統，主機隔音抗震設計，性能良好；● 測試無激光干擾，可與光學高靈敏物鏡，聯用
- 產品型號：Open/Top/Ram SPM
- 更新時間：2026-04-14
- 廠商性質：生產廠家
- 產品品牌：其他品牌
- 產品廠地：廣州市
- 訪問次數：600
- 在線留言 400-875-1717轉809
產品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 產地類別 | 國產 |
| 應用領域 | 綜合 |
原子力顯微鏡系列產品源于中山大學光電材料與技術國家重點實驗室,相關技術“達到優良產品的水平”,多項研究成果突破國際和技術壁壘。產品技術團隊與廣東省集成電路工程技術研究中心、廣東省綠色電力變換及智能控制工程技術研究中心、中山大學物理學院和中山大學測試中心等單位,以及眾多高校和研究單位、相關領域的優秀企業有著長期緊密的合作關系,在表面分析測試、微弱信號檢測、測控系統設計、儀器研發生產等方面具有深厚積累和豐富經驗。
自感知探針原子力顯微鏡特點：
●采用壓電自感知探針的原子力顯微鏡，操作簡單；
●兼容激光檢測型探針的原子力顯微鏡，功能強大；
●高精度測控系統，主機隔音抗震設計，性能良好；
●測試無激光干擾，可與光學高靈敏物鏡，聯用。
自感知探針原子力顯微鏡功能與應用：
●原子力顯微鏡的常規實驗及研究,如:納米形貌物性研究、納米科技教育培訓；
●基于壓電自感知探針的形貌成像和譜測量分析,如光柵樣品、二維材料的頻率調制形貌成像；
●基于激光檢測型探針的形貌成像和潽測量分析,如軟磁盤、光盤、光等樣品的接觸/輕敲模式的形貌成像；
●掃描隧道顯微鏡(STM),包括形貌成像和隧道(需增配STM模塊)；
●原子力顯微鏡與拉量聯用,實現無光環境的物性測量、納米尺度的拉量光譜分析(需增配光譜聯用模塊);
●基于原子力顯微鏡的拓展應用領域及實驗,包括:納米加工刻蝕、導電原子力顯微鏡(C-AFM)、靜電力顯微鏡(EFM)、磁力顯微鏡(MFM)等(需增配相應功能模塊)。
技術參數：
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